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高頻介電常數(shù)測試儀

高頻介電常數(shù)測試儀

簡要描述:高頻介電常數(shù)測試儀能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質(zhì)損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關(guān)、學校、工廠等單位。

更新時間:2024-07-12

產(chǎn)品型號:GDAT

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

訪問量:1503

產(chǎn)品詳情
品牌北廣精儀價格區(qū)間1萬-2萬
應(yīng)用領(lǐng)域化工,生物產(chǎn)業(yè),文體,地礦,能源

高頻介電常數(shù)測試儀

特點:

1 優(yōu)化的測試電路設(shè)計使殘值更小

2 高頻信號采用數(shù)碼調(diào)諧器和頻率鎖定技術(shù)

3  LED 數(shù)字讀出品質(zhì)因數(shù),手動/自動量程切換

4 自動掃描被測件諧振點,標頻單鍵設(shè)置和鎖定,大大提高測試速度

使用方法

高頻Q表是多用途的阻抗測量儀器,為了提高測量精度,除了使Q表測試回路本身殘余參量盡可能地小,使耦合回路的頻響盡可能地好之外,還要掌握正確的測試方法和殘余參數(shù)修正方法。

1.測試注意事項

a.本儀器應(yīng)水平安放;

b.如果你需要較準確地測量,請接通電源后,預(yù)熱30分鐘;

c.調(diào)節(jié)主調(diào)電容或主調(diào)電容數(shù)碼開關(guān)時,當接近諧振點時請緩調(diào);

d.被測件和測試電路接線柱間的接線應(yīng)盡量短,足夠粗,并應(yīng)接觸良好、可靠,以減少因接線的電阻和分布參數(shù)所帶來的測量誤差;

e.被測件不要直接擱在面板頂部,離頂部一公分以上,必要時可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊;

f.手不得靠近試件,以免人體感應(yīng)影響造成測量誤差,有屏蔽的試件,屏蔽罩應(yīng)連接在低電位端的接線柱。

2.高頻線圈的Q值測量(基本測量法)

電感:

線圈號    測試頻率    Q值    分布電容p       電感值  

  9         100KHz      98       9.4           25mH

  8         400KHz     138       11.4        4.87mH

  7         400KHz    202       16           0.99mH

  6           1MHz     196       13          252μH

  5           2MHz     198       8.7        49.8μH

  4         4.5MHz    231       7             10μH

  3          12MHz      193     6.9         2.49μH

  2          12MHz      229     6.4        0.508μH            

  1   25MHz,50MHz   233,211    0.9       0.125μH

高頻介電常數(shù)測試儀

正常工作條件

a.  環(huán)境溫度:0℃~+40℃;

b.相對濕度:<80%;

c.電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

d.消耗功率:約25W;

e.凈重:約7kg;

f. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。

介電常數(shù)的簡介:

介電常數(shù)測量技術(shù)在民用,工業(yè)以及軍事等各個領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。本文主要對介電常數(shù)測量的常用方法進行了綜合論述。首先對國家標準進行了對比總結(jié);然后分別論述了幾種常用測量方法的基本原理、適用范圍、優(yōu)缺點及發(fā)展近況;后對幾種測量方法進行了對比總結(jié),得出結(jié)論。介電常數(shù)是物體的重要物理性質(zhì),對介電常數(shù)的研究有重要的理論和應(yīng)用意義。電氣工程中的電介質(zhì)問題、電磁兼容問題、生物醫(yī)學、微波、電子技術(shù)食品加工和地質(zhì)勘探中,無一不利用到物質(zhì)的電磁特性,對介電常數(shù)的測量提出了要求。目前對介電常數(shù)測量方法的應(yīng)用可以說是遍及民用、工業(yè)、國防的各個領(lǐng)域在食品加工行業(yè)當中,儲藏、加工、滅菌、分級及質(zhì)檢等方面都廣泛采用了介電常數(shù)的測量技術(shù)。例如,通過測量介電常數(shù)的大小,新鮮果蔬品質(zhì)、含水率、發(fā)酵和干燥過程中的一些指標都得到間接體現(xiàn),此外,根據(jù)食品的介電常數(shù)、含水率確定殺菌時間和功率密度等工藝參數(shù)也是重要的應(yīng)用之一[1]。在路基壓實質(zhì)量檢測和評價中,如果利用常規(guī)的方法,盡管測量結(jié)果比較準確,但工作量大、周期長、速度慢且對路面造成破壞。由于土體的含水量、溫度及密度都會對其介電特性產(chǎn)生不同程度的影響,因此可以采用雷達對整個區(qū)域進行測試以反算出介電常數(shù)的數(shù)值,通過分析介電性得到路基的密度及壓實度等參數(shù),達到快速測量路基的密度及壓實度的目的[2]。此外,復(fù)介電常數(shù)測量技術(shù)還在水土污染的監(jiān)測中得到了應(yīng)用[3]。并且還可通過對巖石介電常數(shù)的測量對地震進行預(yù)報[4]。上面說的是介電常數(shù)測量在民用方面的部分應(yīng)用,其在工業(yè)上也有重要的應(yīng)用。典型的例子有低介電常數(shù)材料在超大規(guī)模集成電路工藝中的應(yīng)用以及高介電常數(shù)材料在半導(dǎo)體儲存器件中的應(yīng)用。在集成電路工藝中,隨著晶體管密度的不斷增加和線寬的不斷減小,互聯(lián)中電容和電阻的寄生效應(yīng)不斷增大,傳統(tǒng)的絕緣材料二氧化硅被低介電常數(shù)材料所代替是必然的。目前Applied Materials 的BlackDiamond 作為低介電常數(shù)材料,已經(jīng)應(yīng)用于集成電路的商業(yè)化生產(chǎn)[5]。在半導(dǎo)體儲存器件中,利用高介電常數(shù)材料能夠解決半導(dǎo)體器件尺寸縮小而導(dǎo)致的柵氧層厚度極限的問題,同時具備特殊的物理特性,可以實現(xiàn)具有特殊性能的新器件[6]。在軍事方面,介電常數(shù)測量技術(shù)也廣泛應(yīng)用于雷達和各種特殊材料的制造與檢測當中。對介電常數(shù)測量技術(shù)的應(yīng)用可以說是不勝枚舉。介電常數(shù)的測量技術(shù)已經(jīng)廣泛應(yīng)用于民用、工業(yè)和國防各個領(lǐng)域,并且有發(fā)展的空間和必要性。我們對測量介電常數(shù)的方法進行總結(jié),能更清晰的認識測量方法的現(xiàn)狀,為某些應(yīng)用提供一種可能適合的方法,是有一定理論和工程應(yīng)用意義的。.介電常數(shù)測量方法綜述介電常數(shù)的測量按材質(zhì)分類可以分為對固體、液體、氣體以及粉末(顆粒)的測量[7]。固體電介質(zhì)在測量時應(yīng)用廣泛,通??梢苑譃閷潭ㄐ螤畲笮〉墓腆w和對形狀不確定的固體的測量。相對于固體,液體和氣體的測試方法較少。對于液體,可以采用波導(dǎo)反射法測量其介電常數(shù),誤差在5%左右[8]。此外國家標準中給出了在90℃、工頻條件下測量液體損耗角正切及介電常數(shù)的方法[9]。對于氣體,具體測試方法少且精度都不十分高。文獻[10]中給出一種測量方法,以測量共振頻率為基礎(chǔ),在LC 串聯(lián)諧振電路中產(chǎn)生震蕩,利用數(shù)字頻率計測量諧振頻率,不斷改變壓強和記錄當前壓強下諧振頻率,后用作圖或者一元線性回歸法處理數(shù)據(jù),得到電容變化率進而計算出相對介電常數(shù)。表1 是測量固體介電常數(shù)的國家標準方法(不包括廢止的方法)及其對頻率、介電常數(shù)范圍、材料等情況的要求。如表1 所示,國家標準中已經(jīng)對微擾法和開式腔法的過程做了詳細介紹,然而對適用頻率和介電常數(shù)的范圍都有所限制。所以在不同材料,不同頻率的情況下,國家標準也給出了相應(yīng)的具體測量方法??梢?,上面所分析的方法并不是可以隨便套用的。在不同的系統(tǒng)、測量不同的材料、所要求的頻率不同的情況下,需要對其具體問題具體分析,這樣才能得出準確的方法。國家標準測量方法覆蓋的頻率為50 MHz 以下和100 MHz 到30 GHz,可以說是一個較廣的頻率覆蓋范圍,但是不同范圍適用的材料和環(huán)境等都有所不同。介電常數(shù)的覆蓋范圍是2 到100,接近1 的介電常數(shù)和較高介電常數(shù)的測量方法比較稀缺,損耗普遍在10−3 到10−4 的數(shù)量級上。3. 測量介電常數(shù)的幾種主要方法從總體來說,目前測量介電常數(shù)的方法主要有集中電路法、傳輸線法、諧振法、自由空間波法等等。其中,傳輸線法、集中電路法、諧振法等屬于實驗室測量方法,測量通常是在實驗室中進行,要求具有相應(yīng)的樣品采集技術(shù)。另外對于已知介電常數(shù)材料發(fā)泡后的介電常數(shù)通常用經(jīng)驗公式得到[26]。下面,分別對這幾種方法的原理、特點和發(fā)展現(xiàn)狀等做分別闡述。3.1. 集中電路法集中電路法是一種在低頻段將有耗材料填充電容,利用電容各參數(shù)以及測量得到的導(dǎo)納推出介電常數(shù)的一種方法。其原理公式為:

其中, Y 為導(dǎo)納, A 為電容面積, d 為極板間距離,e0 為空氣介電常數(shù),ω 為角頻率。為了測量導(dǎo)納,通常用并聯(lián)諧振回路測出Q 值(品質(zhì)因數(shù))和頻率,進而推出介電常數(shù)。由于其頻率會受到小電感的限制,這種方法的高頻率一般是100 MHz。小電感一般為10 nHz 左右。如果電感過,高頻段雜散電容影響太大。如果頻率過高,則會形成駐波,改變諧振頻率同時輻射損耗驟然增加。但這種方法并不適用于低損材料。因為這種方法能測得的Q 值只有200 左右,使用網(wǎng)絡(luò)分析儀測得tand 也只在10−4 左右。這種方法不但準確度不高,而且只能測量較低頻率,在現(xiàn)有通信應(yīng)用要求下已不應(yīng)用。

 

A型高頻Q表和C型高頻Q表主要區(qū)別

 

A

C

測試頻率范圍

25kHz~60MHz

100kHz~160MHz

主調(diào)電容控制

傳感器

步進馬達

電容搜索

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