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四探針導電電阻測試儀
簡要描述:四探針導電電阻測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高度,特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。
更新時間:2024-07-14
產(chǎn)品型號:BEST-300C
廠商性質:生產(chǎn)廠家
訪問量:910
品牌 | 北廣精儀 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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類型 | 接地電阻測量儀表 | 應用領域 | 化工,農(nóng)業(yè),文體,能源,建材 |
四探針導電電阻測試儀廣泛用于:覆蓋膜;導電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電涂料,其他半導體材料、薄膜材料方阻測試硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導電薄膜(ITO導電膜玻璃等),金屬膜,導電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率 導電性油漆,導電性糊狀物,導電性塑料,導電性橡膠,導電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料, EMI 防護材料,導電性纖維,導電性陶瓷等
本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據(jù)測試結果自動轉換量程,無需人工多次和重復設置。采用AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,運輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動生成報表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.
1.方塊電阻sheet resistance | 10-5~2×105ω/□ | 10-4~2×105ω/□ | 10-3~2×105ω/□ | 10-3~2×104ω /□ | 10-2~2×105ω/□ | 10-2~2×104ω/□ |
2.電阻率resistivity | 10-6~2×106ω-cm | 10-5~2×106ω-cm | 10-4~2×106ω-cm | 10-4~2×105ω-cm | 10-3~2×106ω-cm | 10-3~2×106ω-cm |
3.測試電流test current | 0.1μa.μa.0μa,100μa,1ma,10ma,100ma | 1μa,10μa,100μa,1ma,10ma,100ma | 0.1μa.μa,10μa,100μa,1ma,10ma,100 ma | 1μa,10μa,100μa,1ma,10ma,100ma | 0.1μa、1μa、10μa,100μa,1ma,10ma,100ma | 1μa,10μa,100μa,1ma,10ma,100ma |
4.電流精度current | ±0.1% accuracy | ±0.2% accuracy | ±0.2% accuracy | ±0.3% accuracy | ±0.3% accuracy | ±0.3% accuracy |
5.電阻精度resistance | ≤0.3% accuracy | ≤0.3% accuracy | ≤0.3% accuracy | ≤0.5% accuracy | ≤0.5% accuracy | ≤0.5% accuracy |
6.顯示讀數(shù)display | 屏液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率 | |||||
7.測試方式 | test mode雙電測量double electrical measurement | |||||
8.電源power | 輸入: ac 220v±10%.50hz功耗 lt;30w | |||||
9.誤差errors | ≤3%(標準樣片結果)(standard samples) | |||||
10.選購功能choose to buy | 選購1.pc軟件;選購2.方形探頭;選購3.直線形探頭;選購4.測試平臺;5.標準電阻.1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test platform | |||||
11.測試探頭test | 探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規(guī)格;探針材質選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針 |
四探針導電電阻測試儀溫馨提示:半導體材料的電導性能和均勻性通過四探針法來測試,四探針測試儀根據(jù)量程可以劃分為,低阻四探針測試儀測到-6次方;高阻四探針測試儀測到7次方至9次方;,雙電測四探針測試儀測到-5次方到5次方,單電測四探針測試儀-5次方到5次方。
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