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漆膜介電常數(shù)介質損耗因數(shù)測試儀

漆膜介電常數(shù)介質損耗因數(shù)測試儀

簡要描述:漆膜介電常數(shù)介質損耗因數(shù)測試儀符合標準:
ASTM D150-11實心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率(介電常數(shù))的標準試驗方法;
GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法;
GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測定方法;
GBT5594.4-2015電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法第4部分:介電常數(shù)和介質損耗角正切值

更新時間:2024-07-14

產品型號:GDAT-A

廠商性質:生產廠家

訪問量:973

產品詳情
品牌北廣精儀價格區(qū)間1萬-2萬
應用領域化工,農業(yè),文體,能源,建材

漆膜介電常數(shù)介質損耗因數(shù)測試儀特點:

  ◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值保持技術,使測Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。

  ◎ 能對固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。

  ◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

  ◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù):Q值,測試頻率,調諧狀態(tài)等。

  ◎ Q值量程自動/手動量程控制。

  ◎ DPLL合成發(fā)生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測試信號。獨立信號 源輸出口,所以本機又是一臺合成信號源。

  ◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標AST# D150以及IEC60250規(guī)范要求。

頻率范圍 10kHz~10MHz 100kHz~10MHz

  固有誤差 ≤5%±滿度值的2% ≤5%±滿度值的2%

  工作誤差 ≤7%±滿度值的2% ≤7%±滿度值的2%

  頻率范圍 10MHz~70MHz 10MHz~160MHz

  固有誤差 ≤6%±滿度值的2% ≤6%±滿度值的2%

  工作誤差 ≤8%±滿度值的2% ≤8%±滿度值的2%

Q值測量

  a.Q值測量范圍:2~1023;

  b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔

  介質損耗:絕緣材料在電場作用下,由于介質電導和介質極化的滯后效應,在其內部引起的能量損耗。也叫介質損失,簡稱介損。在交變電場作用下,電介質內流過的電流相量和電壓相量之間的夾角(功率因數(shù)角Φ)的余角δ稱為介質損耗角。

  損耗因子也指耗損正切,是交流電被轉化為熱能的介電損耗(耗散的能量)的量度,一般情況下都期望耗損因子低些好

  概念:

  電介質在外電場作用下,其內部會有發(fā)熱現(xiàn)象,這說明有部分電能已轉化為熱能耗散掉,電介質在電場作用下,在單位時間內因發(fā)熱而消耗的能量稱為電介質的損耗功率,或簡稱介質損耗(diclectric loss)。介質損耗是應用于交流電場中電介質的重要品質指標之一。介質損耗不但消耗了電能,而且使元件發(fā)熱影響其正常工作。如果介電損耗較大,甚至會引起介質的過熱而絕緣破壞,所以從這種意義上講,介質損耗越小越好。

漆膜介電常數(shù)介質損耗因數(shù)測試儀

影響介電性能的因素

  下面分別討論頻率、溫度、濕度和電氣強度對介電性能的影響。

  1頻率

  因為只有少數(shù)材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很寬的頻率范圍內它們的 。r和 tans幾乎是恒定的,且被用作工程電介質材料,然而一般的電介質材料必須在所使用的頻率下測量其介質損耗因數(shù)和電容率。

  電容率和介質損耗因數(shù)的變化是由于介質極化和電導而產生,重要的變化是極性分子引起的偶極子極化和材料的不均勻性導致的界面極化所引起的.

  2溫度

  損耗指數(shù)在一個頻率下可以出現(xiàn)一個大值,這個頻率值與電介質材料的溫度有關。介質損耗因數(shù)和電容率的溫度系數(shù)可以是正的或負的,這取決于在測量溫度下的介質損耗指數(shù)大值位置。

  3濕度

  極化的程度隨水分的吸收量或電介質材料表面水膜的形成而增加,其結果使電容率、介質損耗因數(shù)和直流電導率增大。因此試驗前和試驗時對環(huán)境濕度進行控制是的.

  注:濕度的顯著影響常常發(fā)生在 1MHz以下及微波頻率范圍內

  4電場強度

  存在界面極化時,自由離子的數(shù)目隨電場強度增大而增加,其損耗指數(shù)大值的大小和位置也隨此而變。

  在較高的頻率下,只要電介質中不出現(xiàn)局部放電,電容率和介質損耗因數(shù)與電場強度無關

  測量方法的選擇:

  高頻/音頻介電常數(shù)測試儀GDAT-A測量電容率和介質損耗因數(shù)的方法可分成兩種:零點指示法和諧振法。

  1 零點指示法適用于頻率不超過50 MHz時的測量。測量電容率和介質損耗因數(shù)可用替代法;也就是在接人試樣和不接試樣兩種狀態(tài)下,調節(jié)回路的一個臂使電橋平衡。通?;芈凡捎梦髁蛛姌?、變壓器電橋(也就是互感藕合比例臂電橋)和并聯(lián) T型網(wǎng)絡。變壓器電橋的優(yōu)點:采用保護電極不需任何外加附件或過多操作,就可采用保護電極;它沒有其他網(wǎng)絡的缺點。

  2 諧振法適用于10 kHz一幾百MHz的頻率范圍內的測量。該方法為替代法測量,常用的是變電抗法。但該方法不適合采用保護電極。

  注:典型的電橋和電路示例見附錄。附錄中所舉的例子自然是不全面的,敘述電橋和側量方法報導見有關文獻和該種儀器的原理說明書。

工作原理

  1.“Q”的定義

  Q表是根據(jù)串聯(lián)諧振原理設計,以諧振電壓的比值來定位Q值。

  “Q”表示元件或系統(tǒng)的“品質因數(shù)”,其物理含義是在一個振蕩周期內貯存的能量與損耗的能量之比。對于電抗元件(電感或電容)來說,即在測試頻率上呈現(xiàn)的電抗與電阻之比。

  或 (1)

  圖 一

  在圖(一)所示的串聯(lián)諧振電路中,所加的信號電壓為Ui,頻率為f,在發(fā)生諧振時

  或 (2)

  回路中電流 (3)

  故電容兩端的電壓

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