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四探針?lè)阶桦娮铚y(cè)試儀
簡(jiǎn)要描述:四探針?lè)阶桦娮铚y(cè)試儀參照標(biāo)準(zhǔn):1.硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)(ASTM F84).2.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》.3.GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā?4.GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā?
更新時(shí)間:2024-07-14
產(chǎn)品型號(hào):BEST-300C
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問(wèn)量:1277
品牌 | 北廣精儀 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
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類(lèi)型 | 指針式電阻測(cè)試儀 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,農(nóng)業(yè),文體,能源,建材 |
四探針?lè)阶桦娮铚y(cè)試儀雙電組合測(cè)試方法:
利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測(cè)量,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析,解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。
四探針?lè)阶桦娮铚y(cè)試儀適用范圍
四端測(cè)試法是目前較*之測(cè)試方法,主要針對(duì)高精度要求之產(chǎn)品測(cè)試;本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén),是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。
本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料之電導(dǎo)率。液晶顯示,無(wú)需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電導(dǎo)率單位自動(dòng)選擇,BEST-300C 材料電導(dǎo)率測(cè)試儀自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成圖表和報(bào)表。
本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示電阻值、電阻率、方阻、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).
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電阻測(cè)量范圍:
1、電阻率: 1×10-6~2×106Ω.cm、
電 阻:1×10-5~2×105Ω
電導(dǎo)率:5×10-6~1×108ms/cm
分辨率: 最小1μΩ
測(cè)量誤差±5%
2、測(cè)量電壓量程: 2mV 20mV 200mV 2V
測(cè)量精度±(0.1%讀數(shù))
分辨率: 0.1uV 1uV 10uV 100uV
3、⑴電流輸出:直流電流 0~1000mA 連續(xù)可調(diào),由交流電源供電。
⑵量程:1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,1000mA,
⑶誤差:±0.2%讀數(shù)±2字
4. 主機(jī)外形尺寸:330mm*350mm*110mm
5、顯示方式:液晶顯示6、電源:220±10% 50HZ/60HZ
7、標(biāo)配:測(cè)試平臺(tái)一套、主機(jī)一套、電源線數(shù)據(jù)線一套。
工作原理和計(jì)算公式測(cè)試原理如下:
直線四探針測(cè)試布局如圖8,相鄰針距分別為S1、S2、S3,根據(jù)物理基礎(chǔ)和電學(xué)原理:
當(dāng)電流通過(guò)1、4探針,2、3探針測(cè)試電壓時(shí)計(jì)算如下:
步驟及流程
1. 開(kāi)啟電源,預(yù)熱5分鐘.
2. 裝配好探頭和測(cè)試平臺(tái).
3. 設(shè)定所需參數(shù).
4. 測(cè)量樣品
5. 導(dǎo)出數(shù)據(jù).
優(yōu)點(diǎn)描述:
1. 自動(dòng)量程
2. 雙電組合測(cè)試方法
3. 標(biāo)準(zhǔn)電阻校準(zhǔn)儀器
4. PC軟件運(yùn)行
5. 同時(shí)顯示電阻、電阻率、電導(dǎo)率數(shù)據(jù).
6. 可顯示5位有效數(shù)字.
7. 中、英文界面
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