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介電常數和介質損耗測試儀
簡要描述:介電常數和介質損耗測試儀是由平板電容器組成,平板電容器一般用來夾被測樣品,配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過公式計算得到。使用STD-C數字Q表具有自動計算介電常數(ε)和介質損耗(tanδ)。
更新時間:2024-07-15
產品型號:GDAT-A
廠商性質:生產廠家
訪問量:1105
品牌 | 北廣精儀 | 價格區(qū)間 | 1萬-2萬 |
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應用領域 | 化工,農業(yè),文體,能源,建材 |
介電常數和介質損耗測試儀系統(tǒng)由測試裝置(夾具)、高頻Q表、數據采集和自動測量控件以及電感器組成。依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。
系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的&佳解決方案。
介電常數和介質損耗測試儀技術參數
1.信號源頻率覆蓋范圍100kHz~100MHz
2.信號源頻率精度3×10-5 ±1個字, 6位有效數字;信號頻率覆蓋比11000:1;采樣精度12BIT(高精度A/D采樣);
3.Q值測量范圍:1~1000自動/手動量程;Q值分辨率0.1,4位有效數字;Q值測量工作誤差<5%;
4.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔;
5.電感測量范圍:1nH~140mH,分辨率0.1nH,自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能;
6.電容直接測量范圍:1pF~25nF,分辨率0.1pF,準確度150pF以下±1pF;150pF以上±1%;
7.主電容調節(jié)范圍:17~240pF(一體鍍銀成型,精度高);帶步進馬達,電容自動搜索;
8. 材料測試厚度:0.1mm~10mm;
9. 合格指示預置功能范圍:5~1000;
10.LCD顯示參數F,L,C,Q,Lt,Ct波段等;
11.環(huán)境溫度:0℃~+40℃;
12.消耗功率:約25W;電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
13.(數顯)介電常數εr和介質損耗因數tanδ測試裝置:
數顯式微桿,平板電容器:
極片尺寸:38mm
極片間距可調范圍:≥15mm
夾具插頭間距:25mm±0.01mm
夾具損耗正切值≤4×10-4(1MHz)
測微桿分辨率:0.001mm
測試極片:材料測量直徑Φ38mm厚度可調≥ 15mm
*液體杯:測量極片直徑Φ38mm; 液體杯內徑Φ48mm、深7mm
14.電感組LKI-1:
分別由0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十個電感組成。
本測試裝置主要由一個數顯的微測量裝置和一組間距可調的平板電容器組成,平板電容器用于夾持被測材料樣品。而數顯的微測量裝置,用于顯示被測材料樣品的厚度。陪測設備介電常數及介質損耗測試儀作為調諧指示儀器,通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進材料樣品時的Q值變化,可測得絕緣材料的損耗角正切值。同時,由平板電容器的刻度讀值變化而換算可得到絕緣材料介電常數。
性能特點:
1. 平板電容器
極片尺寸:φ25.4mm\φ50mm
極片間距可調范圍和分辨率:≥10mm,±0.01mm
2. 園筒電容器
電容量線性:0.33pF / mm±0.05 pF
長度可調范圍和分辨率:≥0~20mm,±0.01mm
3. 夾具插頭間距:25mm±1mm
4. 夾角損耗角正切值:≤4×10-4(1MHz時)
5、數顯電極
維修保養(yǎng)
本測試裝置是由精密機械構件組成的測微設備,所以在使用和保存時要避免振動和碰撞,要求在不含腐蝕氣體和干燥的環(huán)境中使用和保存,不能自行拆裝,否則其工作性能就不能保證,如測試夾具受到碰撞,或者作為定期檢查,要檢測以下幾個指標:
1. 平板電容器二極片平行度不超過0.02mm。
2. 園筒電容器的軸和軸同心度誤差不超過0.1mm。
3. 保證二個測微桿0.01mm分辨率。
4. 用精密電容測量儀(±0.01pF分辨率)測量園筒電容器,電容呈線性率,從0~20mm,每隔1mm測試一點,要求符合工作特性要求。
附表一,介質損耗測試系統(tǒng)主要性能參數一覽表
BH916測試裝置 GDAT高頻Q表
平板電容極片Φ50mm/Φ25.4mm 可選頻率范圍10KHz-70MHz
間距可調范圍≥15mm 頻率指示誤差3×10-5±1個字
夾具插頭間距25mm±0.01mm 主電容調節(jié)范圍30-500/18-220pF
測微桿分辨率0.001mm 主調電容誤差<1%或1pF
夾具損耗角正切值≦4×10-4(1MHz) Q測試范圍2~1023
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