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四探針低電阻率檢測(cè)儀
簡(jiǎn)要描述:四探針低電阻率檢測(cè)儀可測(cè)量的半導(dǎo)體尺寸:直徑≥8㎜(4)測(cè)量方式:平面測(cè)量。(5)電壓表:雙數(shù)字電壓表,可同時(shí)觀察電流、電壓變化A.量程0~19.999 mVB.基本誤差±(0.004%讀數(shù)+0.01%滿度)C.靈敏度:1uVD輸入阻抗﹥1000MΩE 4 1/2位數(shù)字顯示,0~19999(6)恒流源:A.電流輸出:直流電流0.003~100 mA連續(xù)可調(diào),有交流電源供給
更新時(shí)間:2024-07-16
產(chǎn)品型號(hào):BEST-300C
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問量:950
品牌 | 北廣精儀 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
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類型 | 數(shù)字式電阻測(cè)試儀 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),農(nóng)業(yè),地礦,能源 |
四探針低電阻率檢測(cè)儀四探針低電阻率檢測(cè)儀描述:
采用四探針組合雙電測(cè)量方法,液晶顯示,自動(dòng)測(cè)量,自動(dòng)量程,自動(dòng)系數(shù)補(bǔ)償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出;選配:PC軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)管理和處理.
雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)參考國(guó)標(biāo)單晶硅物理測(cè)試方法及 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測(cè)量,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析,解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響.
1.方塊電阻 10^-5~2×10^5Ω/□
2.電阻率 10^-6~2×10^6Ω-cm
3.測(cè)試電流 0.1μA.μA.0μA,100µA,1mA,10mA,100mA
4.電流精度 ±0.1%
5.電阻精度 ≤0.3%
6.顯示讀數(shù) 屏液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率
7.測(cè)試方式 雙電測(cè)量
8.電源 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W
9.誤差 ≤3%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果)
10.選購(gòu)功能 選購(gòu)1.pc軟件; 選購(gòu)2.方形探頭; 選購(gòu)3.直線形探頭; 選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái);5.標(biāo)準(zhǔn)電阻.
11.測(cè)試探頭 探針間距選購(gòu):1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購(gòu):碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針
12.標(biāo)準(zhǔn)電阻(選購(gòu)) 規(guī)格:1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ
1.方塊電阻范圍:10-4~2×103Ω/□
2.電阻率范圍:10-5~2×104Ω-cm
3.測(cè)試電流范圍:10μA,100?A,1mA,10mA,100 mA
4.電流精度:±0.2%讀數(shù)
5.電阻精度:≤0.3%
6.顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率
7.測(cè)試方式: 普通單電測(cè)量
8.工作電源:輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W
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