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絕緣紙耐壓擊穿試驗(yàn)儀

絕緣紙耐壓擊穿試驗(yàn)儀

簡(jiǎn)要描述:絕緣紙耐壓擊穿試驗(yàn)儀曲線顯示電壓擊穿試驗(yàn)儀規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)GB/T 1408的本部分的引用而成為本部分的條款。 凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單<不包括勘誤的內(nèi)容>或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成 協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的版本。 凡是不注日期的引用文件,其版本適用于本部分.

更新時(shí)間:2024-07-18

產(chǎn)品型號(hào):BDJC-100KV

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

訪問(wèn)量:598

產(chǎn)品詳情
品牌北廣精儀價(jià)格區(qū)間5萬(wàn)-10萬(wàn)
擊穿電壓100KV應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子,交通,汽車,電氣

絕緣紙耐壓擊穿試驗(yàn)儀GB/T 1981. 2-2003 電氣絕緣用漆第2部分:試驗(yàn)方法(IEC 60464“2: 2001, IDT)

  GB/T 7113. 2-2005 絕緣軟管 試驗(yàn)方法(IEC 60684-2:1997 ,MOD)

  GB/T 10580-2003 固體絕緣材料在試驗(yàn)前和試驗(yàn)時(shí)采用的標(biāo)準(zhǔn)條件(IEC 60212: 1971,IDT) ISO 293: 1986 塑料 熱塑性材料壓模塑試樣

  ISO 294-1: 1996 塑料 熱塑性材料試樣的注模塑法 第1部分: 一般原則、多用途模塑件及條形試樣

  ISO 294-3: 1996 塑科 熱塑性材料試樣的注模塑法 第3部分:小板 ISO 295: 1991 塑料 熱固性材料壓模塑試樣

  ISO 10724: 1994 塑料 熱固性模塑料 注塑成型多用途試樣

  IEC 60296: 2003 變壓器和開關(guān)用的未使用過(guò)的礦物絕緣油規(guī)范

  IEC 60455-2, 1998 電氣絕緣用柑脂基反應(yīng)復(fù)合物 第2部分:試驗(yàn)方法 IEC 60674-2: 1988 電氣用塑料薄膜 第2部分z試驗(yàn)方法

可實(shí)時(shí)繪制試驗(yàn)曲線,顯示試驗(yàn)數(shù)據(jù),判斷準(zhǔn)確,并可保存,分析,打印試驗(yàn)數(shù)據(jù)。并且能夠自動(dòng)判別試樣擊穿并采集擊穿電壓數(shù)據(jù)及泄露電流,同時(shí)能夠在擊穿的瞬間電壓迅速降低自動(dòng)歸零。軟件系統(tǒng)操作方便,性能穩(wěn)定,安全可靠。由電腦控制,數(shù)據(jù)采集方式通過(guò)光電隔離,有效解決試驗(yàn)過(guò)程中的抗干擾問(wèn)題,軟件操作使用方便,能夠?qū)崟r(shí)顯示動(dòng)態(tài)曲線,同時(shí)升壓速率無(wú)級(jí)可調(diào),可以根據(jù)自己的需要進(jìn)行升壓速率調(diào)節(jié),調(diào)節(jié)范圍在0.1KV-3KV/S,使升壓速率真正做到勻速、準(zhǔn)確,并能夠準(zhǔn)確測(cè)出漏電電流的數(shù)據(jù)。主要用途及功能

     標(biāo)準(zhǔn)要求要求.主要適用于固體絕緣材料如:塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時(shí)間的測(cè)試;該儀器采用計(jì)算機(jī)控制,可對(duì)試驗(yàn)過(guò)程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速、準(zhǔn)確的采集、處理,并可存取、顯示、打印。

     此儀器為具有防輻射功能,儀器試驗(yàn)門處為透明絕緣玻璃中夾有屏蔽網(wǎng),在試驗(yàn)過(guò)程中,擊穿瞬間會(huì)產(chǎn)生大的電流,同時(shí)對(duì)人身體有輻射危害,我公司這款儀器在此進(jìn)行了屏蔽處理對(duì)人身危害減少到及至。

     此儀器還具有照明功能,因?yàn)樵谠囼?yàn)過(guò)程中會(huì)有光線陰暗,可以應(yīng)用到此功能,讓使用者在試驗(yàn)過(guò)程中的觀測(cè)更明顯,有更優(yōu)質(zhì)的試驗(yàn)效果。 

絕緣紙耐壓擊穿試驗(yàn)儀

ASTM D149-2009介電擊穿電壓試驗(yàn)方法

6.1.3根據(jù)12.2,對(duì)可變低壓源的控制可以改變電源的壓力,使得合成的測(cè)試電壓流暢,均勻,沒(méi)有超量或是瞬變。在任何環(huán)境下,都不允許峰值電壓超過(guò)顯示電壓有效值的1.48倍。電機(jī)驅(qū)動(dòng)控制器更適合于進(jìn)行快速測(cè)試(參見12.2.1)或慢速測(cè)試(參見12.2.3)。

6.1.4在電源上安裝可以在三個(gè)周期內(nèi)運(yùn)行的切斷設(shè)備。該設(shè)備將電壓源設(shè)備與電源設(shè)備切斷,以保護(hù)電壓源不受試樣擊穿造成設(shè)備過(guò)載的影響。如果破裂后保持持續(xù)的電流,將造成測(cè)試樣品不必要的燃燒,電極的點(diǎn)蝕并污染液體環(huán)境介質(zhì)。

6.1.5斷路設(shè)備應(yīng)具有位于次級(jí)升壓變壓器上可以調(diào)節(jié)電流的檢測(cè)元件,以便根據(jù)測(cè)試樣的性質(zhì)進(jìn)行調(diào)整和排列,以檢測(cè)試驗(yàn)電流。設(shè)置檢測(cè)元件以應(yīng)對(duì)12.3所定義的測(cè)試樣擊穿電流。

6.1.6電流設(shè)置對(duì)測(cè)試結(jié)果具有重大影響。設(shè)置應(yīng)足夠高,使得短暫電壓,例如局部放電,無(wú)法通過(guò)斷路器,如果不夠高,將擊穿過(guò)度燃燒的測(cè)試樣,并造成電極的損壞。優(yōu)化的電流設(shè)置并不能適用于所有的測(cè)試樣,這有賴于材料的具體使用情況以及測(cè)試的目的,有必要以多個(gè)電流設(shè)置對(duì)所給測(cè)試樣進(jìn)行測(cè)試。電極區(qū)域?qū)﹄娏鞯脑O(shè)置選擇具有重大的影響。

6.1.7測(cè)試樣電流感應(yīng)元件應(yīng)位于升壓變壓器的前端。按測(cè)試樣電流校準(zhǔn)電流檢測(cè)刻度。

6.1.8應(yīng)小心設(shè)置電流控制響應(yīng)。如果控制設(shè)置得太高,在擊穿發(fā)生時(shí),將不會(huì)產(chǎn)生響應(yīng)。如果設(shè)置得太低,就會(huì)對(duì)漏電電流,電容電流或局部放電電流(電暈)產(chǎn)生響應(yīng),或在檢測(cè)元件位于前端時(shí),對(duì)的磁化電流產(chǎn)生響應(yīng)。

6.2電壓測(cè)量—備有電壓表以測(cè)定測(cè)試電壓有效值。應(yīng)采用可以讀取峰值的電壓計(jì),將讀數(shù)除以即為有效值。電壓測(cè)量電路的總體誤差不能超過(guò)測(cè)量值的5%。另外,無(wú)論采用何種速度,電壓計(jì)響應(yīng)時(shí)間的滯后率不得超過(guò)全程的1%。

6.2.1通過(guò)將電壓計(jì)或潛在變壓器連接到測(cè)試樣電極上,或連接到變壓器上獨(dú)立的電壓計(jì)線圈上,以測(cè)定電壓。后一種連接方式將不會(huì)影響升壓變壓器的負(fù)載。

6.2.2要求電壓計(jì)最大可讀電壓要大于擊穿電壓,以便能夠準(zhǔn)確讀取和記錄擊穿電壓。

6.3電極—對(duì)于給定的測(cè)試樣結(jié)構(gòu),擊穿電壓還是會(huì)由于測(cè)試電極的幾何形狀以及安裝位置而產(chǎn)生相當(dāng)大的變化。出于這個(gè)原因,在該測(cè)試方法時(shí),應(yīng)說(shuō)明所使用的電極,并在報(bào)告中進(jìn)行說(shuō)明就顯得很重要了。

514.png

6.3.1參考本測(cè)試方法的文件詳細(xì)說(shuō)明了表1中所列的電極。如果沒(méi)有詳細(xì)說(shuō)明的電極,那么應(yīng)從表1中挑選合適的電極,或在由于被測(cè)試材料的性質(zhì)或結(jié)構(gòu)而無(wú)法使用標(biāo)準(zhǔn)電極的情況下,采用雙方都認(rèn)可的其他電極。一些特殊電極的例子,可以參見附錄X2。無(wú)論何種情況,都應(yīng)在報(bào)告中說(shuō)明所采用的電極。

6.3.2表1中的1到4型及6型電極的整個(gè)平面都應(yīng)與測(cè)試樣相接觸。

6.3.3采用7型電極測(cè)試的測(cè)試樣,在測(cè)試中應(yīng)處于電極內(nèi),其到電極邊緣的距離不得少于15mm。在大多數(shù)情況下,使用7型電極進(jìn)行測(cè)試時(shí),其電極表面應(yīng)處于垂直位置。水平放置電極的測(cè)試不能與垂直放置電極的測(cè)試進(jìn)行直接比較,尤其對(duì)于在液相環(huán)境介質(zhì)進(jìn)行的測(cè)試。

6.3.4保持電極表面的清潔和光滑,清除先前測(cè)試所留下的雜物。如果電極表面粗糙,則應(yīng)及時(shí)更換電極。

6.3.5對(duì)電極的初次生產(chǎn)和隨后的表面重修應(yīng)維持電極的特定結(jié)構(gòu)以及光潔度,這是非常重要的。電極表面的平整度和表面光潔度應(yīng)保證電極的整個(gè)區(qū)域都能與測(cè)試樣緊密接觸。在測(cè)試非常薄的材料時(shí),表面光潔度將尤為重要,這是由于電極不恰當(dāng)?shù)谋砻鏁?huì)對(duì)測(cè)試材料產(chǎn)生物理?yè)p壞。表面重修時(shí),不能改變電極表面與特定邊緣半徑之間的過(guò)渡。

6.3.6無(wú)論在大小或形狀上有多大的差別,位于應(yīng)力集中處的電極,通常是比較大的且具有最大半徑的那一個(gè),應(yīng)具有接地電位。

6.3.7在一些特定的液相金屬電極中,將使用電極箔,金屬球,水或?qū)щ娡繉与姌O。應(yīng)該認(rèn)識(shí)到這造成了所得結(jié)果與其他類型電極所獲得的結(jié)果之間存在很大的不同。

6.3.8由于電極對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響,常常會(huì)得到一些額外的信息,以至于需要對(duì)多種電極進(jìn)行測(cè)試才能了解一個(gè)材料(或一組材料)的絕緣性能。這對(duì)于研究測(cè)試尤為具有價(jià)值。

6.4環(huán)境介質(zhì)—有關(guān)本測(cè)試法的文件應(yīng)說(shuō)明環(huán)境介質(zhì)和測(cè)試溫度。為了避免閃絡(luò)以及使擊穿前局部放電的影響最小化,即使是對(duì)于快速測(cè)試,應(yīng)更傾向于甚至是必須在絕緣液中進(jìn)行測(cè)試(參見6.4.1)。絕緣液中獲得的擊穿值不能與空氣中獲得的值進(jìn)行比較。絕緣液的性質(zhì)和前次使用的程度也會(huì)影響測(cè)試的結(jié)果。在某些場(chǎng)合,在空氣中進(jìn)行測(cè)試,需要大量的測(cè)試樣,或者會(huì)在擊穿前,造成嚴(yán)重的表面放電以及燒蝕。一些在空氣中測(cè)試的電極系統(tǒng)應(yīng)在電極周圍包上壓力墊片以防止閃絡(luò)。電極周圍墊片或封條的材料將影響擊穿電壓值。

6.4.1如果在絕緣油中進(jìn)行測(cè)試,應(yīng)提供適當(dāng)大小的油池。(注意—在測(cè)試電壓高于10kV時(shí),并不推薦使用玻璃容器,因?yàn)閾舸┧尫懦鰜?lái)的能量足以擊碎容器。而金屬池必須進(jìn)行接地)。

推薦使用滿足標(biāo)準(zhǔn)D3487中I型或II型的礦物油。根據(jù)測(cè)試法D877所測(cè)定的結(jié)果,其擊穿電壓至少為26kV。如果另有說(shuō)明,也可以將其他絕緣液用作環(huán)境介質(zhì)。這些絕緣油包括硅油和其他用于變壓器,斷路器,電容或電纜的液體,但不限于此。

6.4.1.1絕緣油的性質(zhì)對(duì)測(cè)試結(jié)果具有一定的影響。如上所述,除了擊穿電壓,在測(cè)試較?。ㄐ∮?5μm(千分之一寸)的測(cè)試樣)時(shí),污染物尤其重要。根據(jù)油和測(cè)試材料的性質(zhì),其他的特性如溶解氣體含量,水含量以及油的損耗因子都對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響。經(jīng)常更換絕緣油,或使用和其他修復(fù)設(shè)備有利于減小絕緣油性能變化對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。

6.4.1.2從不同電學(xué)性能液體中測(cè)得的擊穿值通常不能進(jìn)行比較。(參見Xl.4.7)如果在不同于室溫的條件下進(jìn)行測(cè)試,應(yīng)通過(guò)加熱或冷卻液體確保均勻的溫度。在一些情況下,可以將絕緣池放入加熱箱(參見6.4.2)中以控制溫度。如果要強(qiáng)制循環(huán)液體,應(yīng)防止氣泡進(jìn)入到液體中。除非另有說(shuō)明,否則電極上的測(cè)試溫度應(yīng)維持在±5℃以內(nèi)。在很多情況下,應(yīng)說(shuō)明測(cè)試樣將在絕緣油中進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試樣在測(cè)試前已浸入絕緣油中并且未從絕緣油中取出(參見操作規(guī)程D2413)。對(duì)于這些材料,絕緣池的設(shè)計(jì)應(yīng)保證測(cè)試樣在測(cè)試前不得暴露于空氣當(dāng)中。

6.4.2如果在其他環(huán)境溫度或濕度下進(jìn)行空氣中的測(cè)試,應(yīng)準(zhǔn)備加熱箱和濕度控制室。加熱箱應(yīng)滿足D5423標(biāo)準(zhǔn)的要求,并能確保測(cè)試電壓適于使用的溫度。

6.4.3除了在空氣以外,在其他氣體中進(jìn)行測(cè)試也要求使用可以排除或充滿測(cè)試氣體的控制室,這些控制室通常還要控制壓力。由所進(jìn)行測(cè)試項(xiàng)目的性質(zhì)決定控制室的設(shè)計(jì)。

6.5測(cè)試室—進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試室或測(cè)試區(qū)域應(yīng)具有充足的空間以容納測(cè)試設(shè)備,并備有互鎖設(shè)備,以防止接觸到任何帶電部件。電壓源,測(cè)量設(shè)備,池或加熱箱,以及電極的許多不同的物理安排都是可能的,但有三條是必須的(1)所有進(jìn)出帶電部件區(qū)域的門或倉(cāng)門都必須互鎖,以便在開始測(cè)試時(shí)切斷電壓源;(2)應(yīng)盡可能的清除干凈,使得電極表面和測(cè)試樣之間沒(méi)有扭曲的區(qū)域,測(cè)試電極之間不會(huì)發(fā)生閃絡(luò)和局部放電(電暈);以及(3)在測(cè)試之間測(cè)試樣的插入和替換都應(yīng)盡可能的簡(jiǎn)單便捷。在測(cè)試中常常需要對(duì)電極和測(cè)試樣進(jìn)行目測(cè)。

耐電壓擊穿試驗(yàn)儀ASTM D149-2009介電擊穿電壓試驗(yàn)方法

7. 危害

7.1注意—在本測(cè)試中將會(huì)出現(xiàn)致命的電壓。有必要恰當(dāng)?shù)卦O(shè)計(jì)并安裝測(cè)試設(shè)備和所有與之電氣連接的設(shè)備,以保證安全操作。在測(cè)試中任何人都接觸的導(dǎo)電部件都應(yīng)穩(wěn)固的放在地上。在測(cè)試完成時(shí),應(yīng)采取措施置于地上的部件包括:(a)在測(cè)試中處于高壓條件下的部件,(b)在測(cè)試中獲得感應(yīng)電荷的部件,或(c)即使在斷開與電壓源的連接后仍具有電荷的部件。通過(guò)指導(dǎo)讓所有的操作員以恰當(dāng)?shù)姆绞桨踩倪M(jìn)行測(cè)試。在進(jìn)行高壓測(cè)試時(shí),尤其是在壓縮氣體或是在油中進(jìn)行時(shí),擊穿所產(chǎn)生的能量足以引發(fā)大火,爆炸或測(cè)試室的破裂。設(shè)計(jì)測(cè)試設(shè)備,測(cè)試室和測(cè)試樣,以減小發(fā)生此類事故的可能性并消除人員傷亡的可能性。

7.2警告—在高濃度條件下,臭氧將危害生理健康。由政府部門設(shè)定臭氧接觸極限,這通常是以美國(guó)政府工業(yè)衛(wèi)生工作者會(huì)議8的推薦值為基礎(chǔ)。在電壓高到足以在空氣或其他含有氧

8可從美國(guó)政府工業(yè)衛(wèi)生工作者會(huì)議(ACGIH)獲得

氣的大氣中產(chǎn)生局部或放電時(shí),將產(chǎn)生臭氧。在低濃度時(shí),臭氧就具有了特殊的氣味,

但是持續(xù)的吸入臭氧會(huì)造成對(duì)臭氧暫時(shí)失去知覺(jué)。正因?yàn)槿绱?,?dāng)持續(xù)出現(xiàn)臭氧的氣味或是一直存在臭氧產(chǎn)生的條件時(shí),采用工業(yè)監(jiān)控設(shè)備測(cè)量大氣中的臭氧濃度就十分重要了。采用恰當(dāng)?shù)姆椒ǎ缗艢饪?,可以將工作區(qū)域內(nèi)的臭氧濃度降至可以接受的水平。

耐電壓擊穿試驗(yàn)儀

8. 取樣

8.1對(duì)該材料的說(shuō)明中應(yīng)定義詳細(xì)的取樣流程。

8.2為了質(zhì)量控制的目的,在取樣時(shí)應(yīng)收集足夠的樣品以評(píng)估被測(cè)樣品的平均質(zhì)量和被檢批次的變化情況,為了使所取樣品不受時(shí)間的影響,應(yīng)在實(shí)驗(yàn)室或其他測(cè)試區(qū)域已經(jīng)開始準(zhǔn)備測(cè)試樣時(shí)進(jìn)行取樣。

8.3為了獲得最可取的測(cè)試條件,需要從那些遠(yuǎn)離材料中明顯缺損或是間斷的地方進(jìn)行取樣。對(duì)于卷材,除非要對(duì)缺損或間斷的出現(xiàn)或鄰近進(jìn)行調(diào)查,否則應(yīng)避免對(duì)外在的幾層進(jìn)行取樣,例如卷材包的最外層,或是緊鄰片或卷邊緣的材料。

8.4取樣應(yīng)足夠大,以便能夠按特殊材料的要求進(jìn)行各項(xiàng)測(cè)試(參見12.4)。

耐電壓擊穿試驗(yàn)儀ASTM D149-2009介電擊穿電壓試驗(yàn)方法

9. 測(cè)試樣

9.1準(zhǔn)備和處理:

9.1.1按照第8章的要求,從所選樣品中準(zhǔn)備測(cè)試樣。

9.1.2如果要使用平滑表面的電極,在不進(jìn)行實(shí)際表面加工的情況下,測(cè)試樣與電極接觸的表面應(yīng)盡可能具有平滑的平行面。

9.1.3測(cè)試樣應(yīng)具有足夠的大小以防止在測(cè)試時(shí)發(fā)生閃絡(luò)。對(duì)于薄的材料,使用足夠大的測(cè)試樣將便于在一片測(cè)試樣上進(jìn)行多次的測(cè)試。

9.1.4對(duì)于較厚的材料(通常厚度在2mm以上),應(yīng)具有足夠的絕緣強(qiáng)度,以便在擊穿前出現(xiàn)閃絡(luò)或強(qiáng)烈的表面局部放電(電暈)。用于防止閃絡(luò),或減少局部放電(電暈)的技術(shù)包括:

9.1.4.1在測(cè)試時(shí),將測(cè)試樣浸入到絕緣油中。環(huán)境介質(zhì)因素對(duì)擊穿的影響參見X1.4.7。對(duì)于那些沒(méi)有干燥且浸入到油中的測(cè)試樣以及那些按照D2413操作規(guī)程準(zhǔn)備的測(cè)試樣來(lái)說(shuō),這通常都是必要的(參見6.4)。

9.1.4.2在測(cè)試的一側(cè)或兩側(cè)加工出一個(gè)凹槽或是鉆出一個(gè)平底的洞,以減少測(cè)試的厚度。如果采用不同的電極(如表1中的6型電極),那么只需加工一個(gè)表面,兩個(gè)電極中較大的一個(gè)應(yīng)與加工好的表面相連接。加工測(cè)試樣時(shí)要小心,以免對(duì)測(cè)試樣造成污染或機(jī)械損壞。

9.1.4.3用封條或整流罩繞住于測(cè)試樣相連接的電極,以減少閃絡(luò)的發(fā)生。

9.1.5不平的材料應(yīng)采用與樣品材料和幾何形狀相近的測(cè)試樣(和電極)進(jìn)行測(cè)試。有必要按材料的說(shuō)明確定對(duì)這些材料所使用的測(cè)試樣和電極。

9.1.6無(wú)論材料的形狀如何,如果除了測(cè)試面對(duì)面的擊穿強(qiáng)度以外還要進(jìn)行其他測(cè)試,則要在該材料的說(shuō)明中指出所使用的測(cè)試樣和電極。

9.2幾乎在所有的情況下,測(cè)試樣的實(shí)際厚度都很重要。除非另有說(shuō)明,否則應(yīng)在測(cè)試后,測(cè)量擊穿點(diǎn)鄰近區(qū)域的厚度。應(yīng)在室溫條件下(25±5℃)進(jìn)行測(cè)量,并根據(jù)D374測(cè)試法采取恰當(dāng)?shù)牧鞒獭?/p>

耐電壓擊穿試驗(yàn)儀10. 校準(zhǔn)

10.1在校準(zhǔn)測(cè)量時(shí),測(cè)試樣應(yīng)處于通路狀態(tài),并注意那些以6.2所給精度進(jìn)行測(cè)量的電極電壓。

10.2將一個(gè)獨(dú)立的校準(zhǔn)電壓表連接到測(cè)試電壓源的輸出端,以檢測(cè)測(cè)量設(shè)備的精度。校準(zhǔn)測(cè)量適用的這類電壓表示例為:具有可比精度的電極,分壓器,或電壓互感器。

10.3在電壓大于12kV有效值(16.9kV峰值)時(shí),應(yīng)用球隙校準(zhǔn)電壓測(cè)量設(shè)備的讀數(shù)。ANSI C68.1將詳細(xì)說(shuō)明此種校準(zhǔn)的后續(xù)流程。

ASTM D149-2009介電擊穿電壓試驗(yàn)方法

耐電壓擊穿試驗(yàn)儀調(diào)節(jié)大多數(shù)固體絕緣體的擊穿強(qiáng)度都受到溫度和濕度的影響。因此在測(cè)試前,受此影響的材料應(yīng)用控制好的溫度和相對(duì)濕度進(jìn)行平衡。對(duì)于這種材料,調(diào)節(jié)應(yīng)包括在參照本測(cè)試法的標(biāo)準(zhǔn)中。除非另有說(shuō)明。否則應(yīng)按D618操作規(guī)程進(jìn)行后續(xù)流程。對(duì)于許多材料來(lái)說(shuō),濕度對(duì)擊穿強(qiáng)度的影響要大于溫度的影響。對(duì)材料進(jìn)行足夠長(zhǎng)時(shí)間的調(diào)節(jié),以使得測(cè)試樣同時(shí)達(dá)到濕度和溫度的平衡。如果調(diào)節(jié)時(shí)導(dǎo)致測(cè)試樣表面出現(xiàn)凝結(jié)水,應(yīng)在測(cè)試前將測(cè)試樣表面擦干。通常這樣可以減少表面閃絡(luò)的可能性。

耐電壓擊穿試驗(yàn)儀流程(注意:在開始任何測(cè)試前請(qǐng)參見第7章。)電壓使用的方法:方法A,快速測(cè)試法—如圖1所示,從零點(diǎn)到擊穿發(fā)生,以一定的增壓速度,將均勻的電壓施加到試驗(yàn)電極上。除非另有說(shuō)明,否則將采用快速測(cè)試法。在確定增壓速度時(shí),為了使增速包含在新的規(guī)定值中,對(duì)于給定的測(cè)試樣,應(yīng)選擇在10到20s內(nèi)就發(fā)生擊穿的增速。在某些場(chǎng)合,有必要進(jìn)行1到2次的預(yù)測(cè)試,以確定增速。對(duì)于大多數(shù)材料而言,使用500V/s的增速。如果文件參考本測(cè)試方法所的增速,那么即使擊穿時(shí)間偶然出現(xiàn)在10到20s的范圍之外,也應(yīng)繼續(xù)采用。如果出現(xiàn)這種情況,應(yīng)在報(bào)告中記錄下失效次數(shù)。

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