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四探針電阻率方塊電阻測試儀測試探頭： 探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針

自動四探針電阻率測試儀注意事項： 1、儀器不使用時請切斷電源，連接線無需經(jīng)常拔下，避免灰塵進入航空插引起短接等現(xiàn)象， 2、探針筆測試結束，套好護套，避免人為斷針 3、儀器操作前請您仔細閱讀使用說明書，規(guī)范操作 4、輕拿輕放，避免儀器震動，水平放置，垂直測量

低阻雙電四探針試驗儀四探針法測試的 導電性新材料、鋁箔、銅箔等具有類似性質要求測量的材料.

四探針電阻率檢測儀雙電組合測試方法： 利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，解決樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。

四探針方阻電阻測試儀參照標準： 1.硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）. 2.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》. 3.GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》. 4.GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.