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四探針電阻率方塊電阻測(cè)試儀更新時(shí)間：2024-07-15型號(hào)：BEST-300C廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：1095四探針電阻率方塊電阻測(cè)試儀測(cè)試探頭： 探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針
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自動(dòng)四探針電阻率測(cè)試儀更新時(shí)間：2024-07-15型號(hào)：BEST-300C廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：1035自動(dòng)四探針電阻率測(cè)試儀注意事項(xiàng)： 1、儀器不使用時(shí)請(qǐng)切斷電源，連接線無需經(jīng)常拔下，避免灰塵進(jìn)入航空插引起短接等現(xiàn)象， 2、探針筆測(cè)試結(jié)束，套好護(hù)套，避免人為斷針 3、儀器操作前請(qǐng)您仔細(xì)閱讀使用說明書，規(guī)范操作 4、輕拿輕放，避免儀器震動(dòng)，水平放置，垂直測(cè)量
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低阻雙電四探針試驗(yàn)儀更新時(shí)間：2024-07-14型號(hào)：BEST-300C廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：1022低阻雙電四探針試驗(yàn)儀四探針法測(cè)試的 導(dǎo)電性新材料、鋁箔、銅箔等具有類似性質(zhì)要求測(cè)量的材料.
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四探針電阻率檢測(cè)儀更新時(shí)間：2024-07-14型號(hào)：BEST-300C廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：1693
四探針電阻率檢測(cè)儀雙電組合測(cè)試方法： 利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。
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四探針方阻電阻測(cè)試儀更新時(shí)間：2024-07-14型號(hào)：BEST-300C廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：1464
四探針方阻電阻測(cè)試儀參照標(biāo)準(zhǔn)： 1.硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）. 2.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》. 3.GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》. 4.GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》.
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